在神州視覺AOI(自動光學檢測儀)20多種算法中有一種算法稱為Missing算法，是專門針對電容缺件的圖像處理算法。它是通過比對標準電容兩個電極的外接矩形和待測電容兩個電極的外接舉行的面積差異，來判斷和檢測電極是否發生缺件。如下示意：

　　上圖為發生缺件時的元件示意圖，①為正常元件的兩端高亮電極區域的外接矩形，②為發生缺件時的兩端高亮區域的外接矩形，則Missing算法下的差異值如下：

　　Result = (S2 - S1)/ S1 – 1

　　其中S2為外接矩形B的面積，S1為外接矩形A的面積。

　　提示：Missing算法的默認判定范圍為(0， 15)。